有爆料人在周一稱，蘋果公司正在一款采用單挖孔攝像頭的 iPhone 18 Pro 原型機(jī)上積極測(cè)試屏下面容 ID 系統(tǒng)。

據(jù)微博賬號(hào)“數(shù)碼閑聊站”稱，蘋果公司正在為預(yù)計(jì)將于明年發(fā)布的 iPhone 18 Pro 和 iPhone 18 Pro Max 測(cè)試屏下 3D 面部識(shí)別技術(shù)。

這位爆料人的最新說(shuō)法證實(shí)了 The Information 周末的一篇報(bào)道，該報(bào)道稱，蘋果兩款 iPhone 18 Pro 機(jī)型可能會(huì)采用屏下面容 ID，僅在屏幕左上角開一個(gè)小孔以容納前置攝像頭。

屏下面容 ID 是一項(xiàng)重大的工程挑戰(zhàn)，因?yàn)樗筇O果公司在 iPhone 的 OLED 顯示屏下方集成復(fù)雜的紅外面部識(shí)別傳感器，并且不能影響其準(zhǔn)確性和可靠性。

與簡(jiǎn)單的前置攝像頭不同，面容 ID 依靠投射和讀取數(shù)千個(gè)紅外點(diǎn)來(lái)創(chuàng)建用戶面部的詳細(xì)深度圖。OLED 面板會(huì)自然阻擋或散射大部分紅外光，導(dǎo)致系統(tǒng)難以在屏幕下方正常工作。

【來(lái)源：威鋒網(wǎng)】